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中国移动物联网卡是什么(移动物联卡查询系统)

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中国移动物联网专用卡技术指标分级




1.分级原则


由于各行业应用环境差异较大,对M2M专用卡各项指标要求也不尽相同,通过对各行业普


遍关注的技术指标进行分类汇总,并根据技术指标差异给出各级指标量化参数(如T1 –


T2 – H1 – C1 -„ - N1)。


注意:对于本标准未定义的指标要求,需根据具体行业需求另行规定。


表1 技术指标定义列表


指标代码


指标项


阐述要点


T


操作和存储温度


2


H


湿度


3


C


腐蚀


4


V


震动


5


A


模块附着力


6


R


数据保存时间


7


E


擦写次数


8


M


抗电磁干扰


9


X


抗X光


10


S


抗静电


11



2. 操作和存储温度


普通SIM卡的操作及存储温度标准范围是:-25°C~85°C。


M2M专用卡温度分为七个等级,分别是T1,T2,T3,T4,T5,T6,T7各等级的温度范围


如下表所示:


表2 温度指标列表


温度级别


指标要求


T1


-25 to +85°C


T2


-40 to +85°C


T3


-40 to +105°C


T4


-40 to +125°C


T5


-65 to +125°C


T6


-65 to +150°C


T7(存储温度)


-65 to +300°C



满足以上级别要求的M2M专用卡应保证:卡片暴露在温度范围规定的最高温度或者最低


温度下1000小时,卡的操作正常且存储正常(T7只要求存储温度)。



3. 湿度


湿度目前分为两个等级,指标要求如下表所示:


表3 湿度指标列表


湿度级别


指标要求


H1


在 50 度 温 度 , 相 对 湿 度 范 围


90%~95%,1000小时的条件下,可以保证卡的操作和存储正常。


H2


在 85 度 温 度 , 相 对 湿 度 范 围


90%~95%,1000小时的条件下,可以保证卡的操作和存储正常。




4. 腐蚀


腐蚀目前只有一个等级为C1,指标要求如下表所示:


表4 腐蚀指标列表


湿度级别


指标要求


C1


在5%盐度(NaCl)的环境下存储至


少24小时,卡的操作和存储正常。




5. 震动


震动分为三个等级,分别是V1,V2,V3,各等级的震动范围如下表所示:


表5 震动指标列表


震动级别


指标要求


V1


5Hz to 500Hz


V2


10Hz to 1000Hz


V3


20Hz to 2000Hz



满足以上级别要求的M2M专用卡应保证:在以上等级的震动环境下至少2小时,卡的操作


和存储正常。


对于加速度、振幅等的详细要求参见附录B。


针对V1的指标等级范围是附录B中的等级3~8;针对V2的指标等级范围是附录B中等级2;


针对V3的指标等级范围是附录B中的等级1。



6. 附着力


附着力目前只有一个等级为A1,指标要求如下表所示:


表6 附着力指标列表


附着力级别


指标要求


A1


对卡施加60N的拉力并持续1分钟,


模块不应从卡上分离,卡的操作和


存储正常。




7. 数据保存时间


数据保存时间是指在无源储存情况下的数据保存时间,不包括由于对M2M专用卡的擦写6


操作导致卡片数据损坏的情况。


数据保存时间分为四个等级,分别是R1,R2,R3,R4,各等级的指标要求如下表所示:


表7 数据保存时间指标列表


数据保存时间级别


指标要求


R1


10年


R2


15年


R3


20年


R4


25年



在每个时间指标下,根据最高存储温度范围,可分为85°C、105°C、125°C三个等级。



8. 擦写次数


擦写次数是指通过UPDATE指令(参见TS102.221)更新M2M专用卡内数据,保证M2M专用卡


可以正常擦写和读取的最小次数。在对M2M专用卡进行重复擦写数据存储区的情况下,保证


某些常用文件(例如SMS)和数据不会因频繁操作而导致损坏。


卡片擦写次数分为四个等级,分别是E1,E2,E3,E4,各等级的指标要求如下表所示:


表8 擦写次数指标列表


擦写次数级别


指标要求


E1


10万次


E2


50万次


E3


100万次


E4


500万次




9. 抗电磁干扰


抗电磁干扰分为两个等级,指标要求如下表所示:


表9 抗电磁干扰指标列表


电磁级别


指标要求


M1


在卡暴露在稳定的79500A/m (1000Qe)磁场下,不应降低卡片功能。


M2


在 卡 暴 露 在 稳 定 的640000A/m(1000Qe)磁场下, 不应降低卡片功能。




10. 抗 X 光(紫外线)


抗X光(紫外线)分为1个等级,指标要求如下表所示:


表10 抗X光指标列表


电磁级别


指标要求


X1


在卡的任何一面每边在受到0.1Gy 剂 量 , 相 当 于 70 ~ 140KeV中等能量X射线照射时(一年的累计剂量),不应降低卡片功能。




11. 抗静电


抗静电分为三个等级,指标要求如下表所示:


表11 抗静电指标列表


静电级别


指标要求


S1


在卡暴露在2000V的静电环境中,不应降低卡片功能。


S2


在卡暴露在4000V的静电环境中,不应降低卡片功能。


S3


在卡暴露在8000V的静电环境中,不应降低卡片功能。




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